型號
UV/VIS
UV/VIS/NIR
VIS
VIS/NIR
光譜范圍
200-830 nm
220-1020 nm
300-1100 nm
360-830 nm
380-1040 nm
光譜分辨率 (100 μm 狹縫)
3.0 nm
3.7 nm
2.2 nm
數據點間隔
0.65 nm
0.8 nm
0.5 nm
LED 的雜散光
1·10-4
波長測量精度
±0.2 nm
現今使用的大多數顯示屏和背光面板都是基于 LED 或 OLED。它們或多或少的窄帶、結構化光譜需要能夠進行準確計量測定和評估的光譜輻射測量系統。此外,還必須在*精細結構和高分辨率中可靠地測量低亮度。
針對這兩種情況開發了 DTS 140D,它兼具 CAS 140D 光譜儀的高靈敏度和測量準確度以及為*小測量點設計的 TOP 200 光學探頭。
DTS 140D 一體化系統通常包含以下部件:
光譜儀
CAS 140D 系列光譜儀;光譜范圍 360-830 nm 或 380-1040 nm。
測量傳感器
帶校準攝像機的 TOP 200 光學探頭,用于聚焦測量點并將其信息記錄在數據記錄中。
軟件
方便控制光譜儀和光學探頭的 SpecWin Pro 實驗室軟件,以及完整的測量分析和記錄。
校準
亮度和輻射校準,可追溯至*標準 PTB 或 NIST。
定位系統(可選)
DTS 400 手動定位臺或 DTS 500 全自動 5 軸定位系統
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產品特點:
型號
UV/VIS
UV/VIS/NIR
VIS
VIS/NIR
光譜范圍
200-830 nm
220-1020 nm
300-1100 nm
360-830 nm
380-1040 nm
光譜分辨率
(100 μm 狹縫)
3.0 nm
3.7 nm
2.2 nm
3.0 nm
數據點間隔
0.65 nm
0.8 nm
0.5 nm
0.65 nm
LED 的雜散光
1·10-4
1·10-4
1·10-4
1·10-4
波長測量精度
±0.2 nm
±0.2 nm
±0.2 nm
±0.2 nm
關鍵特性:
顯示屏測量的測量挑戰
現今使用的大多數顯示屏和背光面板都是基于 LED 或 OLED。它們或多或少的窄帶、結構化光譜需要能夠進行準確計量測定和評估的光譜輻射測量系統。此外,還必須在*精細結構和高分辨率中可靠地測量低亮度。
針對這兩種情況開發了 DTS 140D,它兼具 CAS 140D 光譜儀的高靈敏度和測量準確度以及為*小測量點設計的 TOP 200 光學探頭。
系統配置
DTS 140D 一體化系統通常包含以下部件:
光譜儀
CAS 140D 系列光譜儀;光譜范圍 360-830 nm 或 380-1040 nm。
測量傳感器
帶校準攝像機的 TOP 200 光學探頭,用于聚焦測量點并將其信息記錄在數據記錄中。
軟件
方便控制光譜儀和光學探頭的 SpecWin Pro 實驗室軟件,以及完整的測量分析和記錄。
校準
亮度和輻射校準,可追溯至*標準 PTB 或 NIST。
定位系統(可選)
DTS 400 手動定位臺或 DTS 500 全自動 5 軸定位系統